Программно-аппаратный комплекс проверки работоспособности и электрических па-раметров КМОП микросхем

Владимир Евгеньевич Драч; Сергей Сергеевич Крисанов

Владимир Евгеньевич Драч КФ МГТУ им. Баумана
Сергей Сергеевич Крисанов Калужский филиал ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»

Аннотация

На предприятиях, специализирующихся на производстве микроэлектронных изделий, одной из основных задач является проверка параметров выпускаемой продукции. В настоящее время для этого используются измерительные комплексы, обладающие рядом недостатков. В настоящей статье описан новый программно-аппаратный комплекс проверки работоспособности микросхем на примере микросхем 590 серии, который обладает объективными преимуществами для конкретного предприятия.

Программно-аппаратный комплекс построен по модульному принципу, управляющий узел выполнен под управлением микроконтроллера. Основные модули комплекса: блок коммутации часть, измерительный блок, блок управления. Присутствует два варианта исполнения модуля коммутации: модульная и монолитная.

Представлены структурная схема, схема электрическая принципиальная и топология печатной платы. Рассчитаны предельные характеристики комплекса, вычислена точность измерений. Апробация комплекса проведена на 590 серии в условиях реального производства.

##submission.authorBiography##

##submission.authorWithAffiliation##

студент магистратуры, Калужский филиал ФГБОУ ВО «Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)»